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구조화 조명 현미경법 (SIM, Structured Illumination Microscopy)은 모아레 (Moire) 조명 패턴의 여러 이미지들을 겹쳐서 하나의 재조합된 초해상력 이미지(최대 20 nm 수준)를 만들어 시료의 세부 구조 정보를 관찰하는 현미경 분석 기법입니다.

본 장비는 2D-SIM, 3D-SIM, Time-lapse 이미징 분석이 가능하며 2D-SIM 는 9장의 이미지를 하나의 재구성된 이미지로 조합하여 약 100nm 수준의 초해상력을 구현할 수 있습니다. 3D-SIM 모드에서 Z축 방향의 초해상력 이미징에 의해 광학 절편 후 약 300nm의 섹셔닝 이미지가 생성됩니다. Time-lapse 이미징 기능이 있어서 시간 경과에 따른 이미징 관찰이 가능합니다.

SIM 장비는 이미징 촬영뿐만 아니라 촬영된 이미지를 최적의 초해상력 이미지로 구현하기 위한 후처리 작업이 필요합니다. 이러한 이유로 해당 장비는 운영자에 의해 사용자 교육, 이미징 촬영, 후처리 작업 등의 분석 지원 서비스가 가능합니다.